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곡물 품질 이미지 분석 시스템

협상 가능업데이트05/19
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin

개요

GE-XP 곡물 품질 이미지 분석 시스템은 이미지 자동 분석 시스템을 이용하여 곡물의 불순물과 불완전한 입자를 측정하는 검사 설비를 응용한다.각종 곡물의 검측에 적합하다.이 시스템은 CCD 카메라, 공급 장치, 구동 장치 및 공급 장치 및 이미지 자동 수집 시스템을 통해 컴퓨터 기술과 이미지 처리 기술을 통합합니다.

제품 정보

GE-XP 곡물 품질 이미지 분석 시스템은 이미지 자동 분석 시스템을 이용하여 곡물의 불순물과 불완전한 입자를 측정하는 검사 설비를 응용한다.각종 곡물의 검측에 적합하다.이 시스템은 컴퓨터 기술과 이미지 처리 기술을 일체화하여 CCD 카메라, 재료 공급 기구, 구동 기구와 재료 공급 기구 및 이미지 자동 채집 시스템을 통해 이미지 처리와 BP 신경 네트워크의 분류 알고리즘을 거쳐 표준 밀, 파손 밀과 이종 곡물 곰팡이 변곡에 대한 자동 식별에 도달한다.

주요 성능 지표:
1. 벼: 미숙립, 충식립, 병반립, 생아립, 곰팡이알.식별 정확도 ≥ 95%
2.밀: 파손 알갱이, 충식 알갱이, 병반 알갱이, 생아 알갱이, 곰팡이 알갱이.식별 정확도 ≥ 95%
3.옥수수: 파손알, 충식알, 병반알, 생아알, 곰팡이알, 열손상알.식별 정확도 ≥ 95%
4. 쌀: 백토색 입률, 입형, 황토색 입미, 백토색도.식별 정확도 ≥ 95%