LA-S 식물 이미지 분석기 시스템 (잎 면적 + 연륜 분석 조합판)

1. 용도
식물연륜분석, 잎면적분석, 병반면적분석, 충손엽면적분석, 잎편엽색분석, 작물관층분석 등에 사용된다.

2. 주요 기술 지표
1. 광학 해상도 3600dpi × 1800dpi, A3 폭의 중결정 FileScan 1860XL 고속 스캐너를 장착한다.자동 초점의 대경심 1200만 화소 촬영기, 5V 모바일 전원 조절 가능한 초슬림 백라이트 전광판은 야외 백라이트 조명 3시간 (최대 측정면적 380 * 265mm) 이 가능하다.자동 이미지 보정 및 자동 측정 캘리브레이션 특성이 있습니다.
2. 식물 잎 측정 분석:
(1) 원클릭으로 사진을 찍어 야외 활체엽 면적을 측정할 수 있다.
(2) 잎 면적을 전자동으로 대량 분석하여 계산할 수 있다.1mm^2까지 작은 날개를 분석하여 분석 오차<0.5%, 측정 중 분석 시간<2초.
(3) 여러 잎의 잎 면적, 둘레, 최대 잎 길이, 최대 잎 너비, 직사각형, 요철비, 구상성, 형상 계수, 병반 면적, 충동 잎 면적, 충동 수량, 충손 잎 면적 (2/3 이상의 잎이 심각하게 손상된 충손 잎 면적 분석 포함) 및 단엽의 엽공 구멍, 형상 계수, 톱니 수, 잎꼭지 너비 등 잎의 가장자리를 정확하게 표시하고 핵성 파라미터를 표시할 수 있다.
(4) 여러 조각으로 식물의 엽록소 상대 함량 또는"녹색 정도"를 측정하여 엽편 엽색을 분석할 수 있다 (영국왕립원림협회 RHS 비색카드 2015 버전에 따른 비색 특성이 있다).
(5) 작물의 관층을 분석할 수 있다.
(6) 식물과 관련된 다양한 크기, 각도 측정을 상호 작용할 수 있습니다.
3. 나무 연륜 분석:
(1) 연륜수, 각 연륜의 평균 너비, 조재 및 만재의 너비, 각 연륜의 탄젠트 각도와 면적을 자동으로 판독할 수 있다.
(2) 연륜 경계, 조재 경계, 만재 경계를 자동으로 구분할 수 있고, 매우 좁은 수륜을 식별할 수 있으며, 상호 위조 연륜을 삭제하고, 단연륜을 삽입할 수 있으며, 자동으로 분석 연표를 생성할 수 있다.
(3) [정밀] 분석 옵션이 있어 ≤0.2mm 너비의 연륜을 자동으로 분석할 수 있으며, 분석으로 얻은 측정 데이터는 한층 더 교차하여 해를 정하고 데이터 분석 처리 능력을 갖추고 있다.
(4) 나무판의 총면적을 계산하고 목재의 변재 면적을 분석할 수 있다.

3. 표준 구성
1. LA-S 식물 이미지 분석기 시스템 (잎 면적 + 연륜 분석 조합판) 소프트웨어 USB 디스크 및 소프트웨어 잠금 1세트
2. 중정 FileScan 1860XL 고속 스캐너 1대
3, 1200만 화소 촬영기 1대
4. 이동식 전원 공급 장치가 장착된 슬림형 백라이트 패널 1세트

4. 기타
이 제품은 컴퓨터를 사용해야 하며, 브랜드 컴퓨터(Core i5 9세대 이상 CPU/16G 메모리/21.5"컬러 디스플레이/무선 네트워크 카드, USB2.0 포트 4개 이상, 운영 환경 Windows 10 전체 Professional 또는 Ultimate) 옵션을 권장합니다.