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마이크로컴퓨터 제어 고저온 자동 충격 시험기

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개요

마이크로 컨트롤 고저온 자동 충격 시험기 마이크로 컨트롤 고저온 자동 충격 시험기는 금속 재료가 동력 부하에서 충격에 저항하는 성능을 측정하여 재료가 동력 부하에서 성질을 판단할 수 있도록 한다

제품 정보

마이크로컴퓨터 제어 고저온 자동 충격 시험기


마이크로컴퓨터 제어 고저온 자동충격시험기는 금속재료가 동부하에서 충격에 저항하는 성능을 측정하여 재료의 동부하에서의 성질을 판단하는데 사용된다.플랭크 해머 충격 전위 에너지와 충격 후 남은 위치 에너지의 차이를 도판에 표시하는 방식을 이용하여 시료의 흡수공을 얻는다.최대 충격 에너지는 300J이며 150J 플랭크 해머가 첨부되어 있으며 시료 단면은 (10×10)mm입니다. 이 기계는 비교적 큰 충격 에너지를 가지고 있으며 강철 및 합금과 같은 충격 강인성이 큰 검은 금속에 적용됩니다.

본 기계는 고저온 시험과 충격 시험 일체기이며, 전용 샘플링 장치를 장착하여 자동으로 샘플을 보내고, 단면 위치의 방법으로 샘플을 중간에 맞추어 시료가 고, 저온 시험을 완료한 후 충격 시간이 4초를 초과하지 않도록 보장하며, 시험 정밀도 및 작업 효율을 높인다.시료의 온도 상승, 냉각, 항온, 온도 조절, 진자 채취, 걸기, 시료 배달, 위치, 충격은 모두 전기 자동 제어, 자동 완성이다.시료를 절단한 후 잉여 에너지, 즉 자동 양진을 이용하여 다음 충격 시험을 준비하기 때문에 연속적으로 저온 충격 시험을 하는 시험실과 저온 충격 시험을 대량으로 하는 야금, 기계 제조 공장 등 부서에서 그 우월성을 더욱 잘 나타낼 수 있다.

이 컴퓨터는 컴퓨터와 프린터를 갖추고 있으며 이중 제어 이중 디스플레이 기능을 갖추고 있다.이 기계는 PLC 자동 제어 및 측정을 채택하고, 회전 편찬에서 측정한 충단 시료 후 플랭크 해머의 반양각에 따라 연산하며, 반양각 베타 값과 플랭크 해머가 시료에 대한 흡수 공률 및 충격 강인성 ak 값을 자동으로 표시하며, 컴퓨터 및 전용 데이터 처리 및 제어 소프트웨어를 통해 데이터 편집 및 생성 시험 보고서를 자동으로 표시할 수 있으며, 시험 데이터 저장 및 인쇄, 3차 시험의 평균 공률, 시퀀스 및 데이터 전송 시간 및 데이터 전송 등을 실현할 수 있다.

본 기계의 충격 주체는 주강 재료를 사용하여 전체 시험 과정에서 강성이 안정적이고 충격에 대한 저항력이 강하며 쉽게 변형되지 않으며 시험 결과가 정확하고 사용 연한이 길다.큰 트위스트 클러치와 고출력 모터를 사용하여 진자와 진자를 취할 때 더욱 평온하고 진동이 없게 한다.

고온 부분은 고온로, 시료함, 샘플링 슬롯 등으로 구성되며 핵심은 고온로이다.시험온도는 80 ℃ 에서 600 ℃ 로 이 온도범위내에서 임의로 시험온도점을 선정할수 있다.고온로는 3단식 구조로 온도조절용 열전지 K분도 Φ0.5이다.시료 상자는 한 번에 10 × 10 × 55 충격 시료 6개를 담을 수 있다.

저온 부분은 복합식 압축기 냉각 기술을 채택하여 열 균형 원리 및 순환 교반 방식을 이용하여 시료에 대한 자동 균일 냉각, 항온 및 온도 조절에 도달한다.

본 기계는 국가표준 GB/T 3808-2002"진추식 충격시험기의 검사"에 따라 개발 생산하고, 국가표준 GB/T 229-2007"금속재료 하비 진추시험방법"에 따라 금속재료에 대해 충격시험을 진행하며, JJG 145-2007"진추식 충격시험기 검정규정"에 부합한다.구조 형태를 변경하고 관련 부품을 교체하면 미국 표준, 유럽 표준 ASTM E23, EN 10045, ISO 148, ISO 83 등 국제 관련 표준의 요구를 동시에 충족시킬 수 있다.

1. 주요 기술 규격:

1. 충격 에너지: 300J 150J

2. 다이얼 눈금 범위 및 분도 값:

에너지 범위: 0-300J 0-150J

작은 칸당 분도 값: 2J 1J

3.플랭크 해머 모멘트: 0-300J M=160.7695N.m

0-150J M=80.3848N.m

4. 플랭크 망치 선양각: 150°

5. 스핀들 회전 중심에서 충격점(시료 중심) 거리: 750mm

6. 충격 속도: 5.2m/s

7. 시료 받침대 간격: 40mm

8.받침대 펜치 필렛:R(1.0~1.5)mm

(1mm는 특별 주문)

9. 칼날 곡률 반지름: R(2.0~2.5)mm

(8mm는 특별 주문)

10. 시료 받침대 지지면 기울기: 11°

11. 충격 칼날 각도: 30 °

12. 충격 칼날 두께: 16mm

13. 각도 측정 범위: 0-360°

14.각도 해상도: ≤0.06°

15.시료 사양: 10×10(7.5 또는 5)×55mm

(시료 길이 ≤ 55mm)

16. 시료함 용량: 10개(저온), 6개(고온)

17. 냉각, 열 방식: 압축기, 액체 질소 냉각/전기로

18.저온 범위: 실온~-100℃

19.온도 제어 정밀도: 압축기 파동 ± 0.5 ℃, 경도 2 ℃

액체 질소 파동 ± 2 ℃

20. 디지털 타이머: 1분~999분, 해상도 1분

21. 냉각 매체: 에탄올, 액체 질소

22. 고온 범위: 80 ℃ ~ 900 ℃

23. 온도 조절 정밀도: 파동 ± 2 ℃, 경도 3 ℃

24. 공급 속도: ≤ 4S

25. 전체 폼 팩터 (길이 × 폭 × 높이): (3050 × 2500 × 1400)mm

26. 전체 무게: 740kg

27. 전원: 3상 4선제 380V 50Hz 2.6KW

28. 작업 조건:

1) 실온 20°C±5°C 범위 내;

2) 상대 습도가 85% 미만입니다.

3) 주변에 부식성 매체, 진동, 강한 전자장 간섭이 없는 환경에서;

4) 두께가 200mm 미만인 콘크리트 지반에 설치하거나 1400kg 이상에 고정한다.

5) 받침대에 장착된 기준면의 수평도를 2/1000내로 조절한다.

2. 구조 소개:

기본 구성요소는 다음과 같습니다.

본체, 저온장치, 고온장치, 원료공급기구, 위치확정기구, 전기제어상자, 마이크로컴퓨터 등.

1.본체: 동체, 전동기구, 걸림진자기구, 지시기구, 진자망치, 자동양진신호장치 등으로 구성된다.

1) 기계식 후크 오프셋 부분:

"플랭크" 버튼을 누른 후, 플랭크 해머가 높이 올라가 걸려 있고, 보험 핀이 뻗어 있다."자동공급" 버튼을 누르면 시험기는 다음과 같이 실현된다. 견본배달→위치확정→끼워넣기→시료가 도착한후 이어"판매취소"버튼을 누른 다음"충격"을 누르면 바로 한차례 충격시험을 진행하게 된다. 시료배달을 끊은 뒤흔들망치는 자동양진이 걸리고 보험판매가 자동적으로 뻗어나와 다음번 충격시험을 준비하게 된다.

2) 메커니즘을 나타냅니다.

지시기구의 역할은 시험시 시료흡수공을 표시하여 표도판, 지침, 다이얼 등으로 구성된다.이 컴퓨터는 마이크로컴퓨터 제어로 두 세트의 판독 시스템을 포함하고 있으며, 시험 결과는 동시에 컴퓨터에 표시됩니다.

3) 플랭크 해머 부분:

플랭크 해머는 플랭크, 칼날, 플랭크, 이음매, 플러그, 후크 등의 부품으로 구성된다.사용자가 서로 다른 에너지 등급의 해머를 쉽게 교체할 수 있도록 무작위로 분해기가 달려 있다.

2.저온 장치: 주로 냉동 시스템과 저온 슬롯 두 부분으로 구성됩니다.

전원과 냉방 스위치를 켜면 고온압축기가 작동하기 시작하며 저온압축기 가동 조건 (약 5분) 에 도달하면 저온압축기가 자동으로 작동해 냉방 시스템이 정식 냉방 작업 상태에 들어간다.냉각압축기는 연속적으로 끊임없이 작동하는데, 슬롯 내의 온도가 설정 온도에 근접할 때, 냉각 슬롯의 가열 장치는 PID 조절 방식에 따라 열을 제공하기 시작하며, 냉각 시스템에서 생산한 여분의 냉각량의 균형을 맞추어 항온의 목적을 달성한다.믹서는 냉각 슬롯 내의 매체를 계속 순환시켜 슬롯 내의 온도가 균일하게 일치하도록 할 수 있다.

3.고온장치: 고온로, 시료함, 샘플배달조 등으로 구성되며 핵심은 고온로이다.시험온도는 80 ℃ 에서 600 ℃ 로 이 온도범위내에서 임의로 시험온도점을 선정할수 있다.고온로는 3단식 구조로 온도조절용 열전지 K분도 Φ0.5, 세 개의 신뢰할 수 있는 묶음이 시료함의 가장 안쪽에 있으며, 모두 60mm 거리에 배치되어 있으며, 표시거리는 시료함에 이미 고정되어 있다.시료 상자는 한 번에 10 × 10 × 55 충격 시료 6개를 담을 수 있다.

4. 고저온 장치의 전환

고온 장치와 저온 장치는 같은 이동 지지판에 설치된다.사용자는 온도에 따라 고온 장치와 저온 장치를 변환합니다.출하 시 조정된 정확한 위치는 저온 장치의 샘플링 포트 (공급 막대 센터) 대중 시험기가 시료로 맞은 센터이다.이때 저온시험을 하면 직접 저온시험의 준비작업을 하고 저온시험을 진행할수 있다.만약 고온 시험을 한다면, 이동 지지판을 고정하는 두 개의 고정 기둥의 너트를 풀지만 제거할 수 없게 하고, 손으로 이동 지지판을 추진하여 고온 장치의 샘플링 입구 (공급 막대 중심) 를 중간 시험기가 시료의 중심에 맞추게 한 다음, 고정 기둥의 너트를 팽팽하게 돌리면, 이때 고온 시험의 준비 작업을 할 수 있고, 고온 시험을 진행할 수 있다.

5.공급 기구:

시료가 저온 장치에서 필요한 온도로 냉각되면 이 기구는 신속하게 시료를 집게 지지면에 보낼 수 있다.스위치 충돌 블록의 위치를 조절하여 공급봉의 위치와 여정 길이를 조절할 수 있다.

6. 포지셔닝 메커니즘:

충격 시험을 할 때, 시료는 반드시 집게의 측면에 밀착하여 시료의 구멍이 정확하게 해머 축선의 중심에 있어야 시험 결과의 정확성을 보장할 수 있으며, 본 기계는 위치 측정 기구를 통해 단면 위치 측정 방법으로 시료를 맞출 수 있다.

7. 전기 제어 시스템:

본 기기의 전기 제어 시스템은 우리 회사가 자주적으로 연구 개발한 마이크로프로세서 제어 시스템이다.