근적외선 곡물 분석기

근적외선 곡물 분석기SEN-IR3300은 래스터 + MEMS 디지털 노출 기술 기반콩, 유채씨, 유차씨, 밀,옥수수, 땅콩, 보리, 벼, 참깨 등 과립상 샘플 성분의 빠른 측정.스스로 창조한 측면조만반사 혼합 장치는 그것의 측정 정밀도를 더욱 높이고 샘플의 대표성을 더욱 강하게 한다;기기 내장형950-1650nm 분광기는 400-1100nm 분광기보다 더 많은 샘플 내포물을 분석할 수 있다지표, 분석 효과가 더 높다.

응용 분야

제품 특징

●원클릭 작업

다중지표의 정확한 출력은 터치스크린조작을 채용하고 인터페이스가 직관적이며 계기는 간편한 원키식분석기능을 갖고있어 견본만 부으면 무손상검측에서 필요한 모든 매개 변수를 얻을수 있다.운영 인력은 전문적인 교육을 거치지 않고도 효율적인 테스트를 수행할 수 있습니다.
●측조 혼합 장치는 검측 정밀도를 확보한다.
근적외선 곡물 분석기SEN-IR3300은 곡물 입자 샘플 분석 정밀도를 3배로 높여 공정한 인수와 수익성 있는 의사결정에 거래 쌍방이 모두 인정하는 결과를 제공하는 측조 혼합 장치를 보유하고 있다.
●멀티 시나리오를 위한 단일 분석기
계기는 현장, 작업장, 밭머리 등을 수매하는 등 장면이 유연하다.방대한 데이터베이스는 다년간의 수확기의 광범한 견본을 기초로 건설되여 분석결과의 질과 정밀도를 확보하였다.

제품 사양

샘플링 액세서리