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phoenix nanome⑥x는 초고해상도의 나노 포커스입니다. 반도체 및 SMT 산업의 고품질의 구성 요소 및 상호 연결을 감지하도록 설계된 X선 검사 시스템.이 시스템은 2D X선 검사와 전 3D 컴퓨터 단층 스캔 (nano ct) 에 사용할 수 있는 뛰어난 성능과 다기능성을 갖추고 있다.새로운 x/act 패키지를 사용하여 phoenix nanome/x는 현재와 미래의 제로 결함 요구 사항을 충족시키기 위해 선택적 인 시스템입니다.
특징:
탁월한 양방향 검파기 기술 (디지털 이미지 체인과 효과적인 온도 안정 30프레임 초당 디지털 탐지기) 을 통해 얻은 선명한 활동 영상
높은 배율 확대
정확한 작업
높은 재현성
180킬로볼트/15W 고출력 개방형 나노 포커스 튜브는 최대 200나노미터의 세부 탐지 능력을 갖추고 있다
nanoCT로 업그레이드 가능Ò는
옵션:
x/act 패키지는 CAD 기반 고해상도 자동 X-ray 감지(?AXI)를 쉽고 빠르게 수행하여 결함 커버리지를 극대화하고 높은 배율과 재현성을 제공합니다.
높은 동적 온도로 안정된 GE DXR 디지털 탐지기와 액티브 냉각을 통해 얻은 30FPS(프레임 초당)의 선명한 활동 감지 영상
10초 이내의 3D 컴퓨터 단층 촬영
마름모꼴 / 창을 통해 동일한 고화질 화질로 최대 2배 빠른 데이터 수집
결합된 2D/3D CT 작업
탁월한 양방향 검파기 기술 (디지털 이미지 체인과 효과적인 온도 안정 30프레임 초당 디지털 탐지기) 을 통해 얻은 선명한 활동 영상
테스트 단계의 자동화가 가능합니다.
탁월한 사용 편이성
적용:
설치된 인쇄회로기판프로세서 상자 안에 칩 용접점을 거꾸로 장착한 나노 포커스 X선 이미지.이미지는 하나의 브리지와 몇 개의 열린 용접점을 보여 줍니다.용접점의 직경은 대략 150µm이다.
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반도체 및 기타 전자 부품4000 온도 응력 주기 후 µBGA용 nanoCT® 。0.5㎛의 체소 크기가 있어 8∼1㎛ 미만의 균열이 감지된다. |
규격
| 최대관 전압 | 180킬로볼트 |
|---|---|
| 최대 전력 | 15W |
| 세부 감지 기능 | 최대 0.2마이크로미터 |
| 최소 초점 거리 | 0.3mm |
| 최대 체소 해상도 (물체 크기에 따라 다름) | < 1 µm |
| 형상 배율(2D) | 최대 1970배 |
| 형상 배율(3D) | <300배 |
| 최대 대상 치수 (높이 x 지름) | 680mm x 635mm / 27"x 25" |
| 최대 물체 무게 | 10kg / 22파운드 |
| 이미지 체인 | 2.0메가픽셀 디지털 이미지 체인 |
| 조작 | 5축 샘플 작업 |
| 2차원 엑스선 영상 | 가능 |
| 3D 컴퓨터 단층 스캐닝 | 지원 (옵션) |
| 시스템 크기 | 1860mm x 2020mm x 1920mm / 73.2"x 79.5"x 75.6" |
| 시스템 무게 | 2600kg / 5732파운드 |
| 방사선 안전 | - 독일 ROV(액세서리 2 nr. 3) 및 미국 성능 표준 21 CFR 1020.40(캐비닛 엑스선 시스템)에 따른 전체 방사선 안전 캐비닛 - 방사선 누출율: < 1.0µSv/h 캐비닛 벽의 10cm에서 측정 |
첨부 파일:
CT 옵션: 소프트웨어 datos/x, 고정밀 회전 장치, 재구축 및 시각화 워크스테이션 포함
품질 / 검사: 육안 관찰 및 인공 검사 결과를 위한 서비스 스테이션 소프트웨어는 bga00 모듈, qfp00 모듈 또는 vc00 모듈과 같은 자동 프로그램에서 실행됩니다.
변환기: 소프트웨어 패키지 변환 결과 파일, 품질 / 보증 또는 x / act에서 다른 형식으로 제작, 타사 소프트웨어 요구 사항입니다.
품질 분석: 검사 결과를 분석하고 육안으로 관찰하는 데 사용되는 소프트웨어 패키지는 자동 프로그램에서 수집되며 품질 검사가 검사합니다.
다이아몬드 / 윈도우: 동일한 고화질 화질로 최대 2배 빠른 데이터 수집
4MP 이미지 체인을 사용하는 4"이미지 증강기: 이런 고해상도 4"이미지 증강기 이미지 체인: 전체 디지털 판독과 이미지 처리가 있으며 모든 고품질 phoenix⑥ X선 2차원 시스템의 기본 구성 부분이다.탐측기는 2차원 실시간 검측에 적용된다.